ДЕБАЯ - ШЕРРЕРА МЕТОД, метод рентгеновского структурного анализа поликристаллических материалов. В рентгеновских камерах или рентгеновских дифрактометрах осуществляется дифракция рентгеновского излучения на исследуемом образце. Анализируя дифракционную картину, устанавливают атомную структуру образца. Предложен П. Дебаем и немецким физиком П. Шеррером в 1916.
|